针对基于边界扫描的超大规模集成电路单元的特点,论述了测试性设计需要重点考虑的一些问题,研究了如何保证经过测试性设计后的电路......

对工艺过程进行评估的目的在于找出存在可靠性缺陷的地方,它是针对技术磨损的机理,通过对专门设计的测试结构进行封装级或圆片级可......

提出ERA系统(Electronic Realization Automation)的概念.该系统的目标是实现微细结构,特别是VLSIC的全自动化制造.对于微细结构制......

针对超大规模集成电路（VLSIC）的可靠性测试问题进行了理论分析，叙述了VLSIC可靠性测试技术及特点，并对VLSIC可靠性测试的设计方法与改......

为了改变传统的基于软件的机械故障诊断模式,以及发挥神经网络超大规模集成电路(VLSI)的优势,提出了一种用于故障诊断识别的脉冲频......

本文首先介绍了适合VLSIC的功能测试法.然后,在分析网络适配器结构的基础上建立了网络适配器的故障类型.最后,对网络适配器故障模......